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CHVS-1000Z型自動轉(zhuǎn)塔數(shù)顯顯微硬度計(jì)

簡要描述：適用范圍
熱處理、碳化、淬火硬化層，表面覆層，鋼，有色金屬，微小及薄形零件等。

產(chǎn)品型號：CHVS-1000Z型
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-09-09
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HVS-1000Z型自動轉(zhuǎn)塔數(shù)顯顯微硬度計(jì)采用大示屏LCD顯示，菜單式結(jié)構(gòu)，選擇硬度標(biāo)尺HV或HK，硬度值相互轉(zhuǎn)換，物鏡/壓頭自動切換，測試結(jié)果和數(shù)據(jù)處理自動儲存，也可通過打印機(jī)輸出，RS-232接口與計(jì)算機(jī)連網(wǎng)。

適用范圍
熱處理、碳化、淬火硬化層，表面覆層，鋼，有色金屬，微小及薄形零件等。

HVS-1000 Digital Micro Vickers Hardness Tester adopts large LCD screen to display and menu type structure to choice hardness scales HV or HK, exchange hardness values among scales, store testing results and data procession automatically, as well as output by printer. By means of interface of RS-232, the instrument can be linked with computer.

Usage Range:
Heat treated layer, carbonized layer, hardened hard layers, superficial coating, steels, non-ferrous metal, micro and thin shaped components.

技術(shù)數(shù)據(jù)（Technical Specifications）

試驗(yàn)力（Testing Force）	10g （0.098N）、25g （0.245N）、50g （0.49N）、100g （0.98N ）、 200g （1.96N）、300g （2.94N）、500g （4.9N）、1000g （9.8N）
轉(zhuǎn)換標(biāo)尺（Exchanging Scales）	洛氏、表面洛氏、布氏（ Rockwell, Superficial Rockwell, Brinell）
zui小測量單位（Min Measuring Unit）	0.031μm
總放大倍數(shù) Magnification of Microscope	100^X（觀察, For Observation ）400^X（測量, For Measurement）
數(shù)據(jù)輸出（Data Output）	內(nèi)置打印機(jī)和RS-232接口（ Inside Printer and RS-232 Interface）
加荷控制（Loading Control）	自動（加荷、保荷、卸荷）, Automatically （load, keep, unload）
X-Y測試臺 X-Ystage	尺寸Dimensions:100×100mm zui大移動Travei range:25×25mm
儀器重量（ Net Weight ）	25kg
試件zui大高度（Max Height of Specimen）	85mm
電源（Power Supply）	AC220V±5%，50~60Hz
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)（Carried Standard）	GB/T4340.2國家標(biāo)準(zhǔn)（GB/T4340.2 Chinese Standard）, JJG151檢定規(guī)程（ JJG151 Inspection Rule ）
標(biāo)準(zhǔn)配件附件 Standard Accessories	物鏡40x、10x，顯微壓頭，數(shù)顯測量目鏡10x，標(biāo)準(zhǔn)硬度塊，薄形試臺、圓柱體試臺、平口試臺，水平儀，電源線，輔助工具等 Objectives 40x and 10x, Vickers Indenter, Microscope 10x, Standard Hardness Brocks: 2 pcs, Thin Specimen Testing Table, Column Testing Table, Forcipate Testing Table, Lever, Power Cable, Assistant Tools, etc

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